Flatness, Roughness, and Discrete Defect Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
| অন্যান্য লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
SPIE Digital Library,
11/4/96
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| উপাদানের বিবরণ: | <strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong> |
|---|---|
| দৈহিক বর্ননা: | 1 online resource |
| বিন্যাস: | Mode of access: Internet |
| আইসবিএন: | 9780819422507 |
| প্রবেশাধিকার: | Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students |