Flatness, Roughness, and Discrete Defect Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
| Altri autori: | |
|---|---|
| Natura: | Elettronico eBook |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
SPIE Digital Library,
11/4/96
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |