Flatness, Roughness, and Discrete Defect Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Бусад зохиолчид: Stover, John
Формат: Цахим Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: SPIE Digital Library, 11/4/96
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ижил төстэй зүйлс