Flatness, Roughness, and Discrete Defect Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
| অন্যান্য লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
SPIE Digital Library,
11/4/96
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |