Keshavarzi, A. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis II. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Keshavarzi, Ali. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis II. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Keshavarzi, Ali. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis II. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.