DeBusk, D. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing III. SPIE Digital Library.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)DeBusk, Damon. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing III. SPIE Digital Library.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)DeBusk, Damon. Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing III. SPIE Digital Library.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.