Jones, S. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XI. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Jones, Susan. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XI. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Jones, Susan. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XI. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.