Technologies for Synthetic Environments: Hardware-in-the-Loop Testing II

Podrobná bibliografie
Další autoři: Murrer, R. Lee
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: SPIE Digital Library, 7/15/97
Témata:
On-line přístup:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobné jednotky