Keshavarzi, A. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III. SPIE Digital Library.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Keshavarzi, Ali. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III. SPIE Digital Library.
Citação MLA (9ª ed.)Keshavarzi, Ali. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III. SPIE Digital Library.
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