Keshavarzi, A. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Keshavarzi, Ali. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Keshavarzi, Ali. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis III. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.