Flatness, Roughness, and Discrete Defects Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays II

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Stover, John
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 4/1/98
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak