Flatness, Roughness, and Discrete Defects Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays II
| Другие авторы: | |
|---|---|
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
SPIE Digital Library,
4/1/98
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |