APA-ийн эшлэл(7 дахь хэвлэлт)

Prasad, S. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis IV. SPIE Digital Library.

Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)

Prasad, Sharad. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis IV. SPIE Digital Library.

MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)

Prasad, Sharad. Microelectronic Manufacturing Yield, Reliability, and Failure Analysis IV. SPIE Digital Library.

Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.