Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VII

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Batchelor, Bruce
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 10/6/98
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak