Amberiadis, K. In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Amberiadis, Kostas. In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Amberiadis, Kostas. In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..