In-Line Characterization, Yield Reliability, and Failure Analyses in Microelectronic Manufacturing
| מחברים אחרים: | |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
SPIE Digital Library,
4/27/99
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| תאור פריט: | <strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong> |
|---|---|
| תיאור פיזי: | 1 online resource |
| פורמט: | Mode of access: Internet |
| ISBN: | 9780819432230 |
| גישה: | Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students |