Recent Advances in Metrology, Characterization, and Standards for Optical Digital Data Disks

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Podio, Fernando
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 11/30/99
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
תיאור
תאור פריט:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
תיאור פיזי:1 online resource
פורמט:Mode of access: Internet
ISBN:9780819432926
גישה:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students