Recent Advances in Metrology, Characterization, and Standards for Optical Digital Data Disks

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Podio, Fernando
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 11/30/99
Subjects:
Acceso en liña:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Títulos similares