Recent Advances in Metrology, Characterization, and Standards for Optical Digital Data Disks

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Podio, Fernando
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: SPIE Digital Library, 11/30/99
Konular:
Online Erişim:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Benzer Materyaller