Gorecki, C. Microsystems Metrology and Inspection. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Gorecki, Christophe. Microsystems Metrology and Inspection. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Gorecki, Christophe. Microsystems Metrology and Inspection. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.