Miller, J. Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Miller, John. Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Miller, John. Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..