Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Miller, John
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 8/27/99
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Kuvaus
Huomautukset:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Ulkoasu:1 online resource
Aineistotyyppi:Mode of access: Internet
ISBN:9780819434296
Pääsy:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students