Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Miller, John
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 8/27/99
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak