Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Miller, John
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: SPIE Digital Library, 8/27/99
Aiheet:
Linkit:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Samankaltaisia teoksia