Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Miller, John
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 8/27/99
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים