Lawton, R. MEMS Reliability for Critical Applications. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lawton, Russell. MEMS Reliability for Critical Applications. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Lawton, Russell. MEMS Reliability for Critical Applications. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.