MEMS Reliability for Critical Applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Lawton, Russell
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 8/10/00
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια