Tan, C. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.