Tan, C. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.