Tan, C. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..