Citação norma APA

Tan, C. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.

Citação norma Chicago

Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.

Citação norma MLA

Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.

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