Tan, C. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Tan, Cherming. Microelectronic Yield, Reliability, and Advanced Packaging. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.