Metrology-based Control for Micro-Manufacturing

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Tobin, Kenneth
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 6/5/01
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak