Neidio i'r cynnwys
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Uwch
  • Metrology-based Control for Mi...
  • Dyfynnu hwn
  • Argraffu
  • Allforio Cofnod
    • Allforio i RefWorks
    • Allforio i EndNoteWeb
    • Allforio i EndNote
  • Permanent link
Delwedd Flaen

Metrology-based Control for Micro-Manufacturing

Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill: Tobin, Kenneth
Fformat: Electronig eLyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: SPIE Digital Library, 6/5/01
Pynciau:
Conference papers and proceedings.
Mynediad Ar-lein:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
  • Daliadau
  • Disgrifiad
  • Eitemau Tebyg
  • Dangos Staff

Rhyngrwyd

Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Eitemau Tebyg

  • Nano- and Micro-Metrology
  • Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV
  • Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology
  • Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing
    gan: Su, Bo
  • Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology

Opsiynau Chwilio

  • Hanes Chwilio
  • Chwiliad Uwch

Canfod Mwy

  • Pori'r Catalog
  • Pori yn ôl y Wyddor
  • Archwiliwch Sianeli
  • Cronfeydd y Cwrs
  • Eitemau Newydd

Angen Help?

  • Awgrymiadau Chwilio
  • Gofynnwch i Lyfrgellydd
  • Cwestiynau Cyffredin