Ir para o conteúdo
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
    • Māori
Avançada
  • Metrology-based Control for Mi...
  • Citar
  • Imprimir
  • Exportar registo
    • Exportar para RefWorks
    • Exportar para EndNoteWeb
    • Exportar para EndNote
  • Permanent link
Imagem da capa

Metrology-based Control for Micro-Manufacturing

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Tobin, Kenneth
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 6/5/01
Assuntos:
Conference papers and proceedings.
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
  • Exemplares
  • Descrição
  • Registos relacionados
  • Registo fonte

Internet

Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Registos relacionados

  • Nano- and Micro-Metrology
  • Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV
  • Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology
  • Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing
    Por: Su, Bo
  • Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology

Opções de Pesquisa

  • Histórico de Pesquisas
  • Pesquisa Avançada

Encontrar Mais

  • Percorrer o Catálogo
  • Percorrer por ordem alfabética
  • Explore Channels
  • Bibliografia Recomendada
  • Novos exemplares

Precisa de ajuda?

  • Dicas de Pesquisa
  • Serviço de Referência
  • FAQs