In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing II
| مؤلفون آخرون: | |
|---|---|
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
SPIE Digital Library,
4/23/01
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library) |
| وصف المادة: | <strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong> |
|---|---|
| وصف مادي: | 1 online resource |
| التنسيق: | Mode of access: Internet |
| ردمك: | 9780819441072 |
| وصول: | Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students |