Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Gu, Zu-Han
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 10/23/01
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)