Ramesham, R. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Ramesham, Rajeshuni. Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.