Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Ramesham, Rajeshuni
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 10/2/01
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak