Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Ramesham, Rajeshuni
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: SPIE Digital Library, 10/2/01
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)