Herr, D. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI. SPIE Digital Library.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Herr, Daniel. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI. SPIE Digital Library.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Herr, Daniel. Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI. SPIE Digital Library.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.