Duparré, A. Advanced Characterization Techniques for Optical, Semiconductor, and Data Storage Components. SPIE Digital Library.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Duparré, Angela. Advanced Characterization Techniques for Optical, Semiconductor, and Data Storage Components. SPIE Digital Library.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Duparré, Angela. Advanced Characterization Techniques for Optical, Semiconductor, and Data Storage Components. SPIE Digital Library.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.