Gu, Z. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Gu, Zu-Han. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II. SPIE Digital Library.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Gu, Zu-Han. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II. SPIE Digital Library.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..