Стиль цитування APA (7-ме видання)

Gu, Z. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II. SPIE Digital Library.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Gu, Zu-Han. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II. SPIE Digital Library.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Gu, Zu-Han. Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II. SPIE Digital Library.

Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.