Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Chugui, Yuri
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 7/29/02
Materias:
Acceso en línea:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)