Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Chugui, Yuri
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 7/29/02
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)