Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Chugui, Yuri
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 7/29/02
Subjects:
Acceso en liña:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)