Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Chugui, Yuri
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 7/29/02
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)