Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Chugui, Yuri
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 7/29/02
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)