Seventh International Symposium on Laser Metrology Applied to Science, Industry, and Everyday Life

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Chugui, Yuri
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 7/29/02
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)